Crystal Dew World 総合掲示板

▼marosamaさん：

レスどうもです。

>なので、仕様上、検出できなくてもある意味当然かと思います。

そのあたりは承知した上で、要望してますです。ﾊｲ

>pSLCを採用しているSSDで、NANDの素の速度を出したいなら、その領
>域がなくなる以上の継続ライトを行うほかありません。すると、必然
>的にテスト時間がかかりますので、CMDのコンセプトである手軽に使え
>て、短時間で結果がわかるということから外れていくような気もします。

標準で測定するのではなくて、後で出てくるTxBENCHやHD Tune Pro みたいに、そういうオプションメニューを追加すればオケかな？と思ってます。

そういう事でもしないと、既にCDMの進歩はもう必要が無い気もしますし。

例えばDiskspdを最新にUPGする予定が有るっぽいですが、利用者からしたら過去Dataとの比較が難しくなるだけで、デメリットしか感じませんし。

>また、NANDの素の速度が出たとして、それを何秒間計測したものを速度
>として表示するのか、テストは1回でよいのか、複数が良いのかなど、
>ベンチマークソフトとしての仕様の問題にも関わるのでなかなか難しい
>判断だと思います。

最新のSM225x系統は、どうやら空き領域が有るだけpSLC領域を確保するらしく、空き容量が少なくなるまでシーケンシャルWriteが低下しない様ですしね。

技術的困難度は承知してますが、例えばあまりNANDを消耗させずに空き容量を埋めて（ex：デフォルトで85%or残り32GiB）、それで測定する様な機能が有れば楽ですよね。(^o^)ｵｳﾁｬｸﾓﾉﾃﾞｽ

※pSLC部分だけなら、ブロック単位でフラッシュ消去すれば（多分）all「1」になる？から、all「1」書込みで実質的な書き換えは対応tableのみ？で、消耗を最小限で埋められる気もしますし。(~_~; ﾄﾞｼﾛｳﾄｱｲﾃﾞｱﾃﾞｽ

>ベンチマークソフトには向き不向きがあると思いますので、個人的には、
>そういった用途では、IOMeterを使うとか、TxBenchを使うとかというの
>が良いのではないかと思います。

CDMが今のままだと、TxBENCHは別途導入するしかないかなあ、と私も思ってます。

逆に言えば、その機能をCDMにメニュー追加するだけで、CDMだけで済ませられる、というメリットを期待してたりします。(^_^;

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ただ最近は、廉価でお買い得そうなマイナーブランドSSDが、実は低品質NANDを搭載して、安かろう悪かろうで全然お買い得じゃないのが分かってきて、SSD自体に興味が薄れてきてますけどね。

低品質NAND搭載品を判断する手段が無くて、メジャーなSSDブランド品以外、購入する気が失せて来ていて、選ぶ楽しみが無くなりつつ有る次第です。

購入者の皆が皆、TxBENCHやHD Tune Pro のレビューを公開してくれる訳じゃないですし。
（だからメジャーなCDMに、タイトルの機能が有ればなあと、要望した訳です。）